Muutuva sagedusega resonantspinget taluv seade? Wuhan UHV on spetsialiseerunud tootmiseleseeria resonants, millel on lai valik tootevalikut ja professionaalne elektrikatsetus. Et leidaseeria resonants, valige Wuhan UHV.
Muutuva sagedusega resonants-taluvuspinge seade, see vastupidavuspingeseadmete seeria on peamiselt projekteeritud ja toodetud esmaste elektriseadmete vahelduvvoolu taluvuse testimiseks alajaamades, mille võimsus on 500 KV ja alla selle. See suudab vastavalt eeskirjadele täita mahtuvuslike seadmete, nagu trafod, GIS-süsteemid, SF6-lülitid, kaablid, läbiviigud, trafod, generaatorid, mootorid, portselanpudelid jne, vahelduvvoolu pingetesti nõudeid. See võib vastata nii kõrgepinge- kui ka nõrkvooluseadmete testimistingimuste, aga ka madalpinge ja kõrge voolu seadmete testimistingimuste nõuetele.
Sagedusmuunduri resonantspinget taluva seadme koostis
Muutuva sagedusega seeria resonantskatseseade koosneb peamiselt muutuva sagedusega toiteallikast, ergutustrafost, reaktorist ja mahtuvuslikust pingejagurist.
Muutuva sagedusega resonantspinget taluv seade, tuntud ka kui
Vahelduvvoolu pingetaluvuse resonantsseade, muutuva sagedusega resonants, muutuva sagedusega seeriaresonants, jadaresonants, jadaresonantstrafo, seeriaresonantsi testimisseade, vahelduvpinge taluvuse katseseade, kaabli pingetaluvuse katseseade, GIS vahelduvvoolu pingetaluvuse katseseade, sagedusmodulatsiooni seeria resonantspinge vastupidavuse testseade, muutuva sagedusega katseseade, generaatori ja resonantsi katseseade ristseotud kaabel vahelduvvoolu pingetaluvuse katseseade, muutuva sagedusega jadaresonantsi testimistrafo, toitesageduse resonantspinge vastupidavuse katseseade jne.
Sageduse muundamise põhimõte Resonantspinge vastupidavusseade
Teame, et kui vooluringi sagedus f=1/2 π√ LC, tekib ahelas resonants ja testitava proovi pinge on Q korda ergutustrafo kõrgepingeotsa väljundpinge. Q on süsteemi kvaliteeditegur, mis on pinge resonantsi kordaja, mis tavaliselt ulatub kümnetest sadadeni või rohkemgi. Esiteks reguleerige muutuva sagedusega toiteallika väljundsagedust, et tekitada ahelas järjestikresonantsi, ja seejärel reguleerige muutuva sagedusega toiteallika väljundpinget ahela resonantsi tingimustes, et saavutada näidispinge testväärtus. Ahela resonantsi tõttu võib muutuva sagedusega toiteallika väiksem väljundpinge tekitada katsenäidis CX kõrgemat katsepinget.